№ п/п |
Наименование методики |
Наименование организации, аттестовавшей методику |
Дата аттестации(число, месяц, год) |
Аттестаты(Свидетельства) |
1. |
МИ температуры объектов с зависящей от длины волны излучательной способностью пирометрами спектрального отношения |
ФГУП «ВНИИОФИ» |
20.05.2010 |
|
2. |
МИ «ГСИ. Освещенность, энергетическая освещенность, яркость, энергетическая яркость. в диапазоне длин волн 0,4...1,1 мкм. Методика (метод) измерений» |
ФГУП «ВНИИОФИ» |
28.04.2011 |
|
3. |
МИ спектральных и цветовых параметров и характеристик излучения источников света и светотехнических изделий |
ФГУП «ВНИИОФИ», Томский Политех. |
19.03.2012 |
|
4. |
МИ силы света, пространственного распределения силы света и светового потока электрических источников света линейным фотометром на базе фотометрической скамьи |
ФГУП «ВНИИОФИ», Томский Политех. |
19.03.2012 |
|
5. |
МИ абсолютной спектральной чувствительности приёмников излучения в диапазоне длин волн 0,126-0,400 мкм |
ФГУП «ВНИИОФИ» |
25.10.2010 |
|
6. |
МИ потока излучения и энергетической освещенности в диапазоне длин волн 10-30 нм |
ФГУП «ВНИИОФИ» |
25.10.2010 |
|
7. |
МИ коэффициента зеркального и диффузного отражения в диапазоне длин волн 0,03-0,20 мкм. |
ФГУП «ВНИИОФИ» |
25.10.2010 |
|
8. |
МИ энергетической яркости и силы излучения в диапазоне длин волн 0,03 - 0,126 мкм. |
ФГУП «ВНИИОФИ» |
25.10.2010 |
|
9. |
МИ Определение показателя преломления двухиммерсионным методом. |
ФГУП «ВНИИОФИ» |
18.08.2010 |
|
10. |
МИ абсолютной спектральной чувствительности приёмников излучения в диапазоне длин волн 0,03-0,126 мкм. |
ФГУП «ВНИИОФИ» |
25.10.2010 |
|
11. |
МВИ силы света излучателей на основе полупроводниковых многослойных наноразмерных гетероструктур (светодиодов) с использованием спектрорадиометрического метода. |
ФГУП «ВНИИОФИ» |
06.04.2009 |
|
12. |
МВИ светового потока излучателей на основе полупроводниковых многослойных наноразмерных гетероструктур (светодиодов) с использованием гониофотометрического комплекса Optronik10 у. |
ФГУП «ВНИИОФИ» |
20.04.2009 |
|
13. |
МВИ яркости излучателей на основе полупроводниковых многослойных наноразмерных гетероструктур (светодиодов) с использованием спектрорадиометра Konica-MinoltaCS-2000 |
ФГУП «ВНИИОФИ» |
15.05.2009 |
|
14. |
МВИ координат цветности излучателей на основе полупроводниковых многослойных наноразмерных гетероструктур (светодиодов). |
ФГУП «ВНИИОФИ» |
26.05.2009 |
|
15. |
МВИ пространственных характеристик излуче-ния полупроводниковых светоизлучающих диодов. |
ФГУП «ВНИИОФИ» |
07.07.2009 |
|
16. |
МВИ спектрорадиометрических, фотометри-ческих и цветовых параметров полупроводниковых светоизлучающих дио-дов. |
ФГУП «ВНИИОФИ» |
17.08.2009 |
|
17. |
МИ параметров светового излучения для авиационного светотехнического оборудования прибором «EZLite 120 R» |
ФГУП «ВНИИОФИ» |
24.02.2010 |
|
18. |
МИ пространственного распределения силы света светильников на основе наноразмерных гетероструктур (светодиодов) |
ФГУП «ВНИИОФИ» |
24.11.2011 |
|
19. |
МИ светового потока светильников на основе полупроводниковых многослойных наноразмерных гетероструктур (светодиодов) |
ФГУП «ВНИИОФИ» |
24.11.2011 |
|
20. |
МИ световой отдачи светильников на основе наноразмерных гетероструктур (светодиодов) |
ФГУП «ВНИИОФИ» |
24.11.2011 |
|
21. |
Методика измерения коэффициента абсолютной чувствительности к яркости панхроматической оптико-электронной аппаратуры дистанционного зондирования Земли |
ФГУП «ВНИИМС» |
20.05.2015 |
|
22. |
Методика измерений энергетической яркости и силы излучения в диапазоне длин волн 10-400 нм |
ФГУП «ВНИИМС» |
20.05.2015 |
 |
23. |
Методика измерений пространственного распределения спектральной чувствительности |
ФГУП «ВНИИМС» |
20.05.2015 |
 |
24. |
Методика калибровки средств измерений экспозиционной дозы и энергетической освещенности в диапазоне длин волн 10-120 нм |
ФГУП «ВНИИОФИ» |
- |
|
25. |
Методика измерения относительной спектральной чувствительности панхроматической оптико-электронной аппаратуры дистанционного зондирования Земли |
ФГУП «ВНИИМС» |
05.11.2015 |
 |
26. |
Методика измерения абсолютного значения спектрального коэффициента диффузного отражения в диапазоне от 400 до 800 нм |
ФГУП «ВНИИМС» |
26.11.2015 |
 |
27. |
Методика измерения абсолютной спектральной чувствительности трап детектора в спектральном диапазоне от 400 до 1100 нм |
ФГУП «ВНИИОФИ» |
24.11.2015 |
 |
28. |
Методика измерений абсолютной спектральной чувствительности приемников излучения с многослойными наноструктурами в диапазоне длин волн 120-400 нм |
ФГУП «ВНИИОФИ» |
18.11.2014 |
 |
29. |
Методика измерений потока излучения, энергетической освещенности и экспозиционной дозы в диапазоне длин волн 10-200 нм |
ФГУП «ВНИИОФИ» |
18.11.2014 |
 |
30. |
Методика калибровки средств измерений потока излучения полупроводниковых излучающих диодов |
ФГУП «ВНИИОФИ» |
13.11.2014 |
|
31. |
Методика калибровки по чувствительности к спектральной плотности энергетической яркости прецизионных рабочих средств измерений - космической, авиационной и наземной гиперспектральной оптико-электронной аппаратуры дистанционного зондирования Земли |
ФГУП «ВНИИОФИ» |
|
|
32. |
Методика поверки пирометров для измерения температуры поверхности объектов с известной излучательной способностью в диапазоне температур -20...2000 °С |
ФГУП «ВНИИОФИ» |
|
|
33. |
МИ 2184-92. Методика поверки образцовых и рабочих средств измерений СПЭЯ, СПСИ и СПЭО непрерывного оптического излучения в диапазоне длин волн |
ФГУП «ВНИИОФИ» |
- |
|
34. |
Методика поверки градуировочной характеристики радиационного пирометра ТЕРА-50 |
ФГУП «ВНИИОФИ» |
- |
|
35. |
МП 2412-0021-2008 Методика поверки излучателей АЧТ 50/1500 |
ФГУП «ВНИИОФИ» |
- |
|
36. |
Методика поверки излучателей "Черное тело сферическое" |
ФГУП «ВНИИОФИ» |
- |
|
37. |
Методика поверки излучателей протяженных в виде модели абсолютно черного тела SR800 |
ФГУП «ВНИИОФИ» |
- |
|
38. |
Методика поверки Комплекса измерительного "Камелия" |
ФГУП «ВНИИОФИ» |
- |
|
39. |
Методика калибровки комплектов светофильтров, предназначенных для использования в качестве эталонной меры спектрального коэффициента направленного пропускания (СКНП) |
ФГУП «ВНИИОФИ» |
|
|
40. |
Методика калибровки комплектов мер спектрального коэффициента диффузного отражения |
ФГУП «ВНИИОФИ» |
- |
|
41. |
Методика калибровки комплектов мер спектрального коэффициента зеркального отражения (СКЗО) |
ФГУП «ВНИИОФИ» |
- |
|
42. |
ГОСТ Р «ГСИ. Средства измерений силы излучения и эффективности полупроводниковых излучающих диодов. Методика поверки» |
Росстандарт |
28.10.2013 |
|
43. |
ГОСТ Р «ГСИ. Средства измерений коэффициента пульсации оптического излучения. Методика поверки» |
Росстандарт |
28.08.2013 |
|
44. |
ГОСТ Р «ГСИ. Энергетическая яркость и сила излучения в диапазоне длин волн 120-400 нм. Методика измерений» |
Росстандарт |
06.09.2013 |
|
45. |
ГОСТ Р «ГСИ. Оптические характеристики энергосберегающих стекол. Методика измерений» |
Росстандарт |
22.11.2013 |
|
46. |
ГОСТ Р «ГСИ. Абсолютная спектральная чувствительность приемников излучения в диапазоне длин волн 120-400 нм. Методика измерений» |
Росстандарт |
22.11.2013 |
|
47. |
ГОСТ Р «ГСИ. Пространственное распределение спектральной плотности энергетической яркости удаленных объектов. Методика измерений» |
Росстандарт |
22.11.2013 |
|
48. |
ГОСТ Р «ГСИ. Пространственное распределение спектральной плотности энергетической яркости удаленных объектов. Методика измерений»
|
Росстандарт |
22.11.2013 |
|
49. |
МК 010.М4-15 Светодиоды Калибровка силы света |
ФГУП "ВНИИОФИ" |
17.06.2015 |
|
50. |
МК 045.М4-16 Средства измерений освещенности |
ФГУП "ВНИИОФИ" |
08.12.2016 |
|
51. |
МП 022.М4-16 ГСИ. Установка для поверки и калибровки люксметров и яркомеров «СТИЛЬБ-7
|
ФГУП "ВНИИОФИ" |
15.01.2016 |
|
52. |
МК 009.М4-15 Лампы накаливания светоизмерительные. Калибровка освещенности
|
ФГУП "ВНИИОФИ" |
17.06.2015 |
|
53. |
МП 044.Д4-15 ГСИ. Спектрометры люминесцентные LS 45 и LS 55 |
ФГУП "ВНИИОФИ" |
12.08.2015 |
|
54. |
МК 024.М4-15 Средств измерений спектральной плотности энергетической яркости и спектральной плотности
|
ФГУП "ВНИИОФИ" |
12.11.2015 |
|
55. |
Методика измерений энергетической освещенности в диапазоне длин волн от 0,12 до 1,10 мкм
|
ФГУП "ВНИИОФИ" |
14.09.2015 |
|